学术报告会（2019年第18期：中科院钟海舰博士）

钟海舰博士高级工程师， 1999年本科毕业于北京工商大学化学工程学院环境工程专业，获工学学士学位；2007年毕业于上海大学环境与化学工程学院应用化学专业，获工学硕士学位；2012年毕业于中科院苏州纳米所微电子学与固体电子学专业，获工学博士学位。 研究领域：1、 扫描探针技术的装备研制和应用；2、 超薄二维体系与半导体的表面与界面物理性质研究。

自2004年至今，一直从事与扫描探针显微镜相关的应用研究、技术开发和设备研制等工作，熟练掌握扫描探针技术的原理、操作和相关制样技术，精通各种局域电学、磁学及光电耦合等高级应用测量模式及实验方法，参与了扫描近场光电多功能探针系统、超高真空近场光电探针系统等多项与扫描探针显微镜相关的实验装备的自主研发，并应用自主研发系统对石墨烯与宽禁带半导体构成的异质界面局域电学和光电性质开展了深入的研究。 国际首次从实验和理论全面、系统研究石墨烯/半导体界面的接触特性，证实半导体的表面态和石墨烯费米能级的自适应，二者共同决定界面接触势垒。并进一步探讨了界面态密度、半导体载流子浓度等因素对势垒的影响；国际首次从微观视野研究了石墨烯/半导体欧姆接触形成机制，并从理论和实验证实石墨烯褶皱方向对于欧姆接触形成的调控机制；首次报道半导体表面石墨烯微区迁移率的测量方法。创新性的发展了一种KPFM和C-AFM结合对以半导体为衬底的石墨烯微区载流子迁移率进行测量的方法。